<del id="2kgsk"></del>
您好！歡迎訪問上海胤煌科技有限公司網站！
返回首頁
|
在線留言
|
聯系我們
全國服務咨詢熱線：
13390845525
網站首頁
關于我們
產品中心
新聞中心
技術文章
在線留言
聯系我們
熱門關鍵詞：
顯微計數法不溶性微粒儀，超聲粒度儀銷售，多功能超聲粒度分析儀，粒度及Zeta電位分析儀，超聲波粒度儀，澄清度檢查專用傘棚燈，傘棚燈，超聲粒度儀超聲電位分析儀
當前位置：
首頁
>
產品中心
>
測厚儀
> 白光干涉薄膜厚度測量儀
產品分類
Product Category
測厚儀
白光干涉薄膜厚度測量儀
查看全部
相關文章
Related Articles
一文了解超聲電聲法對乳膏樣品的原液粒度檢測分析
顯微鏡直接計數法不溶性微粒檢測儀產品參數
YH-MIP-0205Pro全自動顯微計數法不溶性微粒分析儀實驗環境要求及取樣要求
納米粒度儀對干粉取樣有哪些要求
澄清度檢查分析儀：YH-CLS-1201型澄清度測定儀應用
顯微計數法不溶性微粒-LNP應用案例
白光干涉薄膜厚度測試儀
更新時間：
2023-06-29
型號：
瀏覽量：
1834
白光干涉薄膜厚度測試儀，TF200根據反射回來的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。
了解詳情
共 1 條記錄，當前 1 / 1 頁 首頁 上一頁 下一頁 末頁 跳轉到第
頁
上海胤煌科技有限公司
地址：上海市浦東新區航川路18號
郵箱：info@yh-tek.com
傳真：021-58220558
快速鏈接
首頁
關于我們
產品展示
新聞資訊
技術文章
榮譽資質
在線留言
聯系我們
關注我們
歡迎您關注我們的微信公眾號了解更多信息：
歡迎您關注我們的微信公眾號
了解更多信息
版權所有 © 2025 上海胤煌科技有限公司(m.223603.com) All Rights Reserved
備案號：滬ICP備19004985號-3
管理登陸
技術支持：
化工儀器網
sitemap.xml
電話
400-808-3017
在線交流
微信掃一掃
返回頂部
當前位置：
地址：上海市浦東新區航川路18號
郵箱：info@yh-tek.com
傳真：021-58220558